退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:通过表面分析方法,尤其是XPS分析水纯度
公开/公告号GB0414292D0
专利类型
公开/公告日2004-07-28
原文格式PDF
申请/专利权人 KRIZEK JIRI G F;
申请/专利号GB20040014292
发明设计人
申请日2004-06-25
分类号
国家 GB
入库时间 2022-08-21 22:38:41
机译: 表面波探索分析方法和表面波勘探分析装置
机译: 面波勘探分析装置和面波勘探分析方法
机译: 钻孔填充器现场密封测试方法,钻孔填充器现场密封测试系统,钻孔填充器顶部渗透系数分析方法,钻孔填充器顶部强度分析方法和实验装置用于水密室的钻孔填充器