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METHOD FOR DESIGNING HOLE PATTERN, AND PHOTOMASK

机译:孔型设计方法和光罩

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for designing a hole pattern for improving the degree of freedom of a layout of a hole pattern and easily judging whether or not the layout of the hole pattern is acceptable.;SOLUTION: The method for designing a hole pattern aims to lay a hole pattern out on the pattern figure of a photomask to be used in an exposure step in the manufacture of a semiconductor integrated circuit. A grid is disposed on the pattern figure, the grid having the spacing smaller than the minimum pitch allowed by the design rule of the semiconductor integrated circuit, and the hole pattern is laid on the lattice points which is the intersections of the grid.;COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
机译:解决的问题:提供一种用于设计孔图案的方法,以提高孔图案的布局的自由度,并容易地判断该孔图案的布局是否可接受。孔图案的目的是在要用于半导体集成电路制造中的曝光步骤的光掩模的图案图形上布置孔图案。在图案图形上放置一个栅格,该栅格的间距小于半导体集成电路设计规则所允许的最小间距,并且将孔图形放置在作为栅格交叉点的栅格点上。 :(C)2005,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP2005189683A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-07-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC ELECTRONICS CORP;

    申请/专利号JP20030433493

  • 发明设计人 MATSUURA SEIJI;FUJIMOTO TADASHI;

    申请日2003-12-26

  • 分类号G03F1/08;H01L21/027;H01L21/3205;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 22:35:38

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