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RF INDUCTION PLASMA SOURCE APPARATUS FOR PLASMA TREATMENT

机译:用于等离子体处理的射频感应等离子体源装置

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plasma source apparatus capable of being integrated into semiconductor treatment equipment so as to generate uniform and high density plasma in a wide range of an operating condition. PSOLUTION: The plasma source apparatus has a treatment chamber and a coil for generating a whistler wave in the treatment chamber. The coil is composed of a plurality of parallel lines with at least three different lengths. PCOPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
机译:<要解决的问题:提供一种等离子体源设备,该等离子体源设备能够集成到半导体处理设备中,以便在宽范围的工作条件下产生均匀且高密度的等离子体。

解决方案:等离子体源设备具有处理室和线圈,用于在处理室中产生啸叫波。线圈由具有至少三个不同长度的多条平行线组成。

版权:(C)2005,JPO&NCIPI

著录项

  • 公开/公告号JP2005244255A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTR INC TI;

    申请/专利号JP20050134844

  • 发明设计人 PARANJPE AJIT P;

    申请日2005-05-06

  • 分类号H01L21/3065;H05H1/46;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 22:30:33

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