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Semiconductor device having a dummy active region for controlling high density plasma chemical vapor deposition

机译:具有用于控制高密度等离子体化学气相沉积的伪有源区的半导体器件

摘要

A dummy active region is formed in which abrading processes are averaged. A semiconductor device is characterized in that an active region for forming an actual device, a device separation region being formed by a trench, and a dummy active region formed substantially in a rectangular shape are included, and the length of the short side of the dummy active region is less than 1 μm.
机译:形成虚拟有源区域,在该虚拟有源区域中平均研磨过程。半导体器件的特征在于,包括用于形成实际器件的有源区,由沟槽形成的器件分离区和基本上形成为矩形的伪有源区,并且该伪器件的短边的长度为有源区小于1μm。

著录项

  • 公开/公告号US2005127471A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KENJI SAWAMURA;

    申请/专利号US20050033829

  • 发明设计人 KENJI SAWAMURA;

    申请日2005-01-13

  • 分类号H01L29/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:26:07

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