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机译:像素电路板,像素电路板测试方法,像素电路,像素电路测试方法和测试装置
公开/公告号US2005219168A1
专利类型
公开/公告日2005-10-06
原文格式PDF
申请/专利权人 TOMOYUKI SHIRASAKI;MANABU TAKEI;
申请/专利号US20050093828
发明设计人 MANABU TAKEI;TOMOYUKI SHIRASAKI;
申请日2005-03-29
分类号G09G3/30;
国家 US
入库时间 2022-08-21 22:22:40
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