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Method of evaluating core based system-on-a-chip (SoC) and structure of SoC incorporating same

机译:评估基于内核的片上系统的方法和包含该系统的SoC的结构

摘要

A method of debugging an individual core in core based system-on-a-chip (SOC) ICs with high accuracy and observability, and a structure of SOC incorporating the method. The method includes the steps of building two or more metal layers of a pad frame for each core in an SoC while connecting I/O (input and output) pads on a lower metal layer to a top metal layer, thereby exposing all I/O pads and power pads on a surface of the top metal layer of the pad frame of each core, and applying test vector to each core through the I/O pads on the top metal layer of the core and evaluating response outputs of the core received through the I/O pads on the top metal layer.
机译:一种具有高准确性和可观察性的基于内核的片上系统(SOC)IC中调试单个内核的方法,以及采用该方法的SOC结构。该方法包括以下步骤:为SoC中的每个内核构建焊盘框架的两个或更多金属层,同时将下部金属层上的I / O(输入和输出)焊盘连接到顶部金属层,从而暴露所有I / O每个核心的焊盘框架的顶部金属层表面上的焊盘和电源焊盘,并通过核心的顶部金属层上的I / O焊盘将测试矢量施加到每个核心,并评估通过该接口接收的核心的响应输出顶部金属层上的I / O焊盘。

著录项

  • 公开/公告号US6948105B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-09-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROCHIT RAJSUMAN;

    申请/专利号US20010853999

  • 发明设计人 ROCHIT RAJSUMAN;

    申请日2001-05-12

  • 分类号G01R31/28;G06F17/50;H01L23/495;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:56

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