首页> 外国专利> Method and apparatus for measuring fault diagnostics on insulated gate bipolar transistor converter circuits

Method and apparatus for measuring fault diagnostics on insulated gate bipolar transistor converter circuits

机译:测量绝缘栅双极型晶体管转换器电路上的故障诊断的方法和设备

摘要

A method for diagnosing faults using a load. In the method IGBTs are controlled such that certain currents are expected. If the currents are not as expected, a fault may be diagnosed.
机译:一种使用负载诊断故障的方法。在该方法中,对IGBT进行控制,以便可以预期某些电流。如果电流不符合预期,则可能会诊断出故障。

著录项

  • 公开/公告号US6927988B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BING CHENG;KENT M. HARMON;

    申请/专利号US20030447708

  • 发明设计人 BING CHENG;KENT M. HARMON;

    申请日2003-05-28

  • 分类号H02H7/122;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:24

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号