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System for measurement of absorbed doses of electron beams in an irradiated object

机译:用于测量被照射物体中电子束吸收剂量的系统

摘要

A method and apparatus for measuring doses of electron beams that are absorbed by an object subjected to e-beam irradiation. The absorbed dose can be continuously measured during an irradiation process, and adjustment can be made to system parameters in accordance with the measured absorbed dose.
机译:一种用于测量被电子束照射的物体吸收的电子束剂量的方法和设备。可以在辐照过程中连续测量吸收剂量,并可以根据测量的吸收剂量对系统参数进行调整。

著录项

  • 公开/公告号US6914253B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SERGEY A. KORENEV;IVAN S. KORENEV;

    申请/专利号US20020279419

  • 发明设计人 IVAN S. KORENEV;SERGEY A. KORENEV;

    申请日2002-10-24

  • 分类号G21G5/00;G21K1/02;G21V3/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 22:19:17

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