首页> 外国专利> DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR A HIGH DENSITY WRITE ONCE RECORDING MEDIUM AND RECORDING / REPRODUCING APPARATUS FOR MANAGING DEFECTS

DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR A HIGH DENSITY WRITE ONCE RECORDING MEDIUM AND RECORDING / REPRODUCING APPARATUS FOR MANAGING DEFECTS

机译：一种高密度写入介质的缺陷管理方法及缺陷处理的记录/再现设备

页面导航

摘要
著录项
相似文献

摘要

N/A

机译：不适用

著录项

公开/公告号IN2005MN00091A

专利类型
公开/公告日2005-11-04

原文格式PDF
申请/专利权人
展开▼

申请/专利号IN91/MUMNP/2005
发明设计人 KO JUNG WAN;
展开▼

申请日2005-01-31
分类号G11B20/18;
国家 IN
入库时间 2022-08-21 22:17:34

相似文献

专利
外文文献
中文文献

获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号