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DEVICE AND METHOD OF TRACE GAS ANALYSIS USING CAVITY RING-DOWN SPECTROSCOPY

机译:利用腔衰荡光谱法进行痕量气体分析的装置和方法

摘要

An apparatus and method for analyzing an impurity on a gas is provided. The apparatus includes a first cell (208) containing a first gas with the impurity and a second cell (210) containing a second gas absent the impurity. A first light beam (201a) is coupled into the first cell (208) and a second light beam (201b) is coupled into the second cell (210). A first detector (214) is coupled to an output of the first cell (208) and generates a first signal based on a decay rate of the first light beam within the first cell (208). A second detector (216) is coupled to an output of the second cell (210) and generates a second signal based on a second decay rate of the second light beam within the second cell (210). The concentration of the impurity is determined based on a difference between the first decay rate and the second decay rate.
机译:提供了一种用于分析气体上的杂质的设备和方法。该设备包括:第一单元(208),其包含带有杂质的第一气体;以及第二单元(210),其包含没有杂质的第二气体。第一光束(201a)耦合到第一单元(208)中,第二光束(201b)耦合到第二单元(210)中。第一检测器(214)耦合到第一单元(208)的输出,并基于第一单元(208)内的第一光束的衰减率产生第一信号。第二检测器(216)耦合到第二单元(210)的输出,并且基于第二单元(210)内第二光束的第二衰减率来生成第二信号。基于第一衰减率和第二衰减率之间的差来确定杂质的浓度。

著录项

  • 公开/公告号WO2005057189A1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TIGER OPTICS LLC;YAN WEN-BIN;

    申请/专利号WO2004US40215

  • 发明设计人 YAN WEN-BIN;

    申请日2004-12-01

  • 分类号G01N21/39;G01J3/42;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 22:09:47

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