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CMP METHOD USING GRAINLESS SLURRY FOR PREVENTING SCRATCHES OF A PREDETERMINED LAYER BY USING A GRAINLESS SLURRY

机译:使用无颗粒浆的CMP方法通过使用无颗粒浆来防止预定层的划痕

摘要

Purpose: a kind of CMP (chemical mechanical polishing) methods are arranged to improve contact resistance and via resistance by using an agranular thin pulp. Construction: a layer insulation (33) is formed in semi-conductive substrate, has a metal wire (31). One contact hole (35) is formed in layer insulation for making the external face of metal line exposing. A tungsten film for being completely filled with contact hole is formed on it. One tungsten bolt (37a) is formed by executing CMP on tungsten film using an agranular thin pulp and an oxidant.
机译:目的:安排了一种CMP(化学机械抛光)方法,以使用粒状稀浆提高接触电阻和通孔电阻。结构:在半导体基板中形成一层绝缘层(33),并具有金属线(31)。在层绝缘中形成一个接触孔(35),以使金属线的外表面暴露。在其上形成用于完全填充接触孔的钨膜。使用粒状稀浆和氧化剂在钨膜上进行CMP,从而形成一个钨螺栓(37a)。

著录项

  • 公开/公告号KR20050011466A

    专利类型

  • 公开/公告日2005-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MAGNACHIP SEMICONDUCTOR LTD.;

    申请/专利号KR20030050582

  • 发明设计人 YOON IL YOUNG;

    申请日2003-07-23

  • 分类号H01L21/304;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:05:55

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