• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外国专利> A test for trace defective products AFTER TWO OR MORE nondestructive testing

A test for trace defective products AFTER TWO OR MORE nondestructive testing

机译：在两次或更多次无损检测之后对痕量有缺陷的产品进行检测

页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献

摘要

1. method u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 residual u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 after delivery of two or more non control (nc) u043eu0442u043bu0438u0447u0430u044eu0449u0438u0439u0441u00a0, u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 reliability u043fu0440u0438u043cu0435u043du00a0u0435u043cu043eu0433u043e m u0435u0442u043eu0434u0430 nc pj on u0432u0435u0440u043eu00a0u0442u043du043eu0441u0442u0438 u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du0438u00a0 defects underlie certain interval size (j = 1,...m, u043fu0440u043eu0432u043eu0434u00a0u0442 n nc, where n2, and after each non-destructive i-th u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 number of defects within a certain interval of the j - model, i then u0441u0443u0449u0435u0441u0442u0432u043bu00a0u044eu0442 healing of defects u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du043du044bu0445 the nc, and the number of defects into a certain interval of j, u043eu0441u0442u0430u044eu0449u0438u0445u0441u00a0 product after the n th nc and the u0437u0430u043bu0435u0447u0438u0432u0430u043du0438u00a0 defects u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 as;2. method u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 residual u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 after delivery of two or more non control (nc) u043eu0442u043bu0438u0447u0430u044eu0449u0438u0439u0441u00a0, u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 reliability u043fu0440u0438u043cu0435u043du00a0u0435u043cu043eu0433u043e m u0435u0442u043eu0434u0430 nc pj on u0432u0435u0440u043eu00a0u0442u043du043eu0441u0442u0438 u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du0438u00a0 defects underlie certain interval size (j = 1,...m, u043fu0440u043eu0432u043eu0434u00a0u0442 n nc, where n2, and after each non-destructive i-th u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 u043eu0441u0443u0449u0435u0441u0442u0432u043bu00a0u044eu0442 healing of defects u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du043du044bu0445 the nc, previously defined. u0438u0447u0435u0441u0442u0432u043e defects within a certain interval of j after the 1st u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 - model, 1, and the number of defects into a certain interval size j,u043eu0441u0442u0430u044eu0449u0438u0445u0441u00a0 product after n of nc and the u0437u0430u043bu0435u0447u0438u0432u0430u043du0438u00a0 defects u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 as;3. method u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 residual u0438u0437u0434u0435u043bu0438u00a0 after delivery of two or more non control (nc) u043eu0442u043bu0438u0447u0430u044eu0449u0438u0439u0441u00a0, u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 reliability u043fu0440u0438u043cu0435u043du00a0u0435u043cu043eu0433u043e m u0435u0442u043eu0434u0430 nc pj and the marginal u0432u044bu00a0u0432u043bu00a0u0435u043cu043eu0441u0442u044c defects Pnj on u0432u0435u0440u043eu00a0u0442u043du043eu0441u0442u0438 u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du0438u00a0 defects underlie certain interval size (j = 1,...m, u043fu0440u043eu0432u043eu0434u00a0u0442 n nc, where n2, and after each non-destructive i-th u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 u043eu0441u0443u0449u0435u0441u0442u0432u043bu00a0u044eu0442 healing of defects u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du043du044bu0445 the nc, previously defined. u0438u0447u0435u0441u0442u0432u043e defects within a certain interval of j after the 1st u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 - model, 1, u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 not u0432u044bu00a0u0432u043bu0435u043du043du043eu0435 that method of nc the number of residual defects;and the number of defects into a certain interval of j, u043eu0441u0442u0430u044eu0449u0438u0445u0441u00a0 product after n of nc and the u0437u0430u043bu0435u0447u0438u0432u0430u043du0438u00a0 defects u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 as
机译：1.两个或多个非控制项交付后，方法 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u043d u0438 u00a0残留 u0438 u0437 u0434 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0 ） u043e u0442 u043b u0438 u0447 u0430 u044e u0449 u0438 u0439 u0441 u00a0， u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u00a0 u044e u0442可靠性u0440 u0438 u043c u0435 u043d u043a u043e m u0435 u0442 u043e u0434 u0434 u0430 nc pj on u0432 u0435 u0440 u043e u00a0 u0442 u043e u0441 u0442 u0438 u0432 u044b u00a0 u0432 u043b u0435 u043d u0438 u00a0缺陷是特定间隔大小（j = 1，... m， u043f u0440 u043e u0432 u043e u0434 u00a0 u0442 n nc，其中n2，以及每个无损第i个 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043e u043b u00a0 u043e u043f u0440 u04340 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442在j模型的特定间隔内的缺陷数量，然后i u0441 u0443 u0449 u0435 u0441 u0442 u0432 u043b u00a0 u044e u0442缺陷修复 u0432 u044b u00a0 u04将32 u043b u0435 u043d u043d u044b u0445的nc数量和缺陷数量分成一定的间隔j， u043e u0441 u0442 u0430 u044e u0449 u0438 u0445 u0441 u00a0产品第n个nc和 u0437 u0430 u043b u0435 u0447 u0438 u0432 u0430 u043d u0438 u00a0缺陷 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u00a0 u044e u0442为; 2。传递两个或多个非控制（nc）后，方法 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u043d u0438 u00a0残留 u0438 u0437 u0434 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0 u043e u0442 u043b u0438 u0447 u0430 u044e u0449 u0438 u0439 u0441 u00a0， u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u00a0 u044e u0442可靠性 u043f u04e u0438 u043c u0435 u043d u00a0 u0435 u043c u043e u0433 u043e m u0435 u0442 u043e u0434 u0430 nc pj在 u0432 u0435 u0440 u043e u00a0 u0442 u043d u0441 u0442 u0438 u0432 u044b u00a0 u0432 u043b u0435 u043d u0438 u00a0缺陷是特定间隔大小的基础（j = 1，... m， u043f u0440 u043e u0432 u0432 u043e u0434 u00a0 u0442 n nc，其中n2，并且在每个无损第i个 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0 u043e u0441 u0443 u0449 u0449 u0435 u0441 u0442 u0432 u043b u00a0 u044e u0442缺陷修复 u0432 u044b u00a0 u0432 u043b u0435 u043d u043d u044b u0445先前定义的nc u0438 u0447 u0435 u0441 u0442 u0432 u043e内部的缺陷第一个 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0之后的j的特定间隔，以及将缺陷数转换为特定间隔大小j的数量， u043e u0441 u0442 u0430 u044e n0和 u0437 u0430 u043b u0435 u0447 u0438 u0432 u0430 u043d u0438 u00a0缺陷 u0449 u0438 u0445 u0441 u00a0缺陷后的产品 u0435 u043b u00a0 u044e u0442为; 3。传递两个或多个非控制（nc）后，方法 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u043d u0438 u00a0残留 u0438 u0437 u0434 u0434 u0435 u043b u0438 u00a0 u043e u0442 u043b u0438 u0447 u0430 u044e u0449 u0438 u0439 u0441 u00a0， u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u043b u00a0 u044e u0442可靠性 u043f u04e u0438 u043c u0435 u043d u00a0 u0435 u043c u043e u0433 u043e m u0435 u0442 u043e u0434 u0430 nc pj和边际 u0432 u044b u00a0 u0432 u043b u00a0 5 u043c u043e u0441 u0442 u044c u0432 u0435 u04340 u043e u043e u00a0 u0442 u043d u043e u043e u0441 u0442 u0438 u0432 u044b u00b0 u0432 u043b u0435 u043c u00a0缺陷是特定间隔大小的基础（j = 1，... m， u043f u0440 u043e u0432 u043e u0434 u00a0 u0442 n nc，其中n2，并且在每个无损第i个 u043a之后 u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0 u043e u0441 u0443 u0449 u0435 u0441 u0442 u0432 u043b u00a0 u044e u0442缺陷修复 u0432 u044b u00a0 u043b u0435 u043d u043 d u044b u0445先前定义的nc。 u0438 u0447 u0435 u0441 u0442 u0432 u043e缺陷在第一个 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0-模型1， u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442不是 u0432 u044b u00a0 u0432 u043b u0435 u043d u043d u043d u043e u0435表示残留缺陷数的方法;以及将缺陷分为一定的j间隔 u043e u0441 u0442 u0430 u044e u0449 u0438 u0445 u0441 u00a0乘以nc和 u0437 u0430 u043b u0435 u0447 u0438 u0432 u0430 u043d u0438 u00a0缺陷 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442为

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号