首页> 外国专利> DEVICE FOR INVESTIGATION OF DEFORMATION-relaxation parameters easily deformable material

DEVICE FOR INVESTIGATION OF DEFORMATION-relaxation parameters easily deformable material

机译:变形参数研究-松弛参数易变形材料

摘要

the device u0434u043bu00a0 u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0 u0434u0435u0444u043eu0440u043cu0430u0446u0438u043eu043du043du043e - relaxation parameters u043bu0435u0433u043au043eu0434u0435u0444u043eu0440u043cu0438u0440u0443u0435u043cu044bu0445 materials containing the wet heat u0432u043eu0437u0434u0435u0439u0441u0442u0432u0438u00a0 sample material and optical recording system u0434u0435u0444u043eu0440u043cu0430u0446u0438u043eu043du043du043e - relaxation parameters, u043eu0442u043bu0438u0447u0430u044eu0449u0435u0435u0441u00a0 what system of humid heat u0432u043eu0437u0434u0435u0439u0441u0442u0432u0438u00a0 sample materials rial includes a u0434u043bu00a0 u0443u0432u043bu0430u0436u043du0435u043du0438u00a0, heating and u043eu0445u043bu0430u0436u0434u0435u043du0438u00a0 working environmentu0442u0435u0440u043cu043eu043au0430u043cu0435u0440u0443 and means of working environment in the u0442u0435u0440u043cu043eu043au0430u043cu0435u0440u0443, u043fu0440u0435u0434u0441u0442u0430u0432u043bu00a0u044eu0449u0435u0435 a clip with u043au043eu043du0434u0435u043du0441u0430u0442u043eu043eu0442u0432u043eu0434u0447u0438u043au043eu043c, performed with the opportunity to u0440u0430u0441u0445 u0440u0435u0433u0443u043bu0438u0440u043eu0432u0430u043du0438u00a0 tac and its u043fu043eu043bu043eu0436u0435u043du0438u00a0 u0438u0437u043cu0435u043du0435u043du0438u00a0 on the test sample, the u0442u0435u0440u043cu043eu043au0430u043cu0435u0440u044b installed inside u043fu043eu0434u0432u0438u0436u043du0430u00a0 tape covered the upper platform in the form of u0444u043bu043eu043du043eu043c u043fu0435u0440u0444u043eu0440u0438u0440u043eu0432u0430u043du043du043eu0439 platesone part of which u0434u043bu00a0 u0440u0430u0437u043cu0435u0449u0435u043du0438u00a0 sample is located directly inside the u0442u0435u0440u043cu043eu043au0430u043cu0435u0440u044b and u0432u0442u043eu0440u0430u00a0 part outside, and is equipped with u0442u0435u0440u043cu043eu0441u0442u043eu0439u043au0438u043c with low dafoe u0440u043cu0430u0446u0438u043eu043du043du044bu043cu0438 properties element from a reference line to it, and u043eu043fu0442u0438u0447u0435u0441u043au0430u00a0 registration system u0434u0435u0444u043eu0440u043cu0430u0446u0438u043eu043du043du043e - relaxation parameters, u043fu0440u0435u0434u0441u0442u0430u0432u043bu00a0u044e u0449u0430u00a0 a u043eu043fu0442u043eu044du043bu0435u043au0442u0440u043eu043du043du0443u044e system u0441u043au043eu043cu043cu0443u0442u0438u0440u043eu0432u0430u043du0430 with microprocessor.
机译:设备 u0434 u043b u00a0 u0438 u0441 u0441 u043b u0435 u0434 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0 u0434 u0435 u0434 u0444 u043e u0440 u043c u0430 u0435 u0435 u0434 u043e u043e u043d u043d u043e-松弛参数 u043b u0435 u0433 u043a u043e u043e u0434 u0435 u0444 u043e u0440 u043c u0438 u0440 u0443 u0433 u0435 u043c u044b u0445湿热 u0432 u043e u0437 u0434 u0435 u0439 u0441 u0442 u0432 u0438 u00a0样本材料和光学记录系统 u0434 u0435 u0444 u043e u0440 u043c u0430 u0446 u0438 u043e u043d u043d u043e-松弛参数 u043e u0442 u043b u0438 u0447 u0430 u044e u0449 u0435 u0435 u0441 u00a0什么是湿热系统 u0432 u043e u0437 u0434 u0435 u0439 u0441 u0442 u0432 u0438 u00a0样品材料样本包括一个 u0434 u043b u00a0 u0443 u0432 u043b u0430 u0436 u043d u0435 u043d u0438 u00a0,加热和 u043e u0445 u043b u0430 u0436 u0434 u0435 u043d u0438 u00a0工作环境 u0442 u0435 u0440 u043c u043e u043a u0430 u043c u0435 u0440 u0 443和 u0442 u0435 u0440 u043c u043e u043a u0430 u043c u0435 u0440 u0443, u043f u0440 u0435 u0434 u0441 u0441 u0442 u0430 u0432 u043b u00a0 u044e u0449 u0435 u0435带有 u043a u043e u043d u0434 u0434 u0435 u043d u0441 u0430 u0442 u043e u043e u0442 u0432 u0432 u043e u0434 u0447 u0438 u043a u043c,并有机会执行 u0440 u0430 u0441 u0445 u0440 u0435 u0433 u0443 u043b u0438 u0440 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0 tac及其 u043f u043e u043b u043e u0436 u0435 u043d u0438 u00a0 u0438 u0437 u043c u043c u0435 u043d u0435 u043d u043d u0438 u00a0 u0442 u0435 u0440 u043c u043e u043a安装在 u043f u043e u0434 u0432 u0438 u0436 u043d u0430 u00a0内的u0430 u043c u0435 u0440 u044b磁带以 u0444 u043b u043e u043d u043e u043c的形式覆盖上层平台 u043f u0435 u0440 u0444 u043e u0440 u0438 u0440 u043e u0432 u0430 u043d u043d u043e u0439板中的一部分 u0434 u043b u00a0 u0440 u0430 u0437 u043c u04c 35 u0449 u0435 u043d u0438 u00a0样本直接位于 u0442 u0435 u0440 u043c u043e u043a u0430 u043c u0435 u0440 u044b和 u0432 u0442 u043e u0440 u0430 u00a0外部,并配有低dafoe的 u0442 u0435 u0440 u043c u043e u0441 u0442 u043e u0439 u043a u0438 u043c u0440 u043c u0430 u0446 u0438 u043e u043d u043d u044b u043c u0438来自参考线的属性元素,以及 u043e u043f u0442 u0438 u0447 u0435 u0441 u043a u0430 u00a0注册系统 u0434 u0435 u0444 u043e u0440 u043c u0430 u0446 u0438 u043e u043d u043d u043e-松弛参数 u043f u0440 u0435 u0434 u0441 u0442 u0430 u0432 u043b u00a0 u044e u0449 u0430 u00a0 u043e u043f u0442 u043e u044d u043b u0435 u043a u0442 u0440 u043e u043d u043d u0443 u044e系统 u0441 u043a u043e u043c u043c u043c u0443 u0442 u0438 u0440 u0432 u0430 u043d u0430(带有微处理器)。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号