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METHOD FOR CONTROLLING QUALITY OF MANUFACTURE OF MICRO-MECHANICAL DEVICES

机译:微机械设备制造质量的控制方法

摘要

FIELD: measuring technologies.;SUBSTANCE: method is used for devices containing moving element, electrostatic force indicator and moveable element displacement sensor. Method includes forming of harmonic signals at input of force set-point device and measuring harmonic signals at output of displacement indicator. Amplitude-frequency characteristic of micro-mechanical device is determined by calculating relation of amplitude of second harmonics at output of displacement sensor to signal amplitude at input of force set-point device.;EFFECT: higher precision.;2 cl, 6 dwg
机译:领域:测量技术。实体:方法用于包含移动元件,静电力指示器和可移动元件位移传感器的设备。方法包括在力设定点设备的输入处形成谐波信号,并在位移指示器的输出处测量谐波信号。通过计算位移传感器输出处的二次谐波的幅度与力设定点设备输入处的信号幅度的关系来确定微机械设备的幅频特性。效果:精度更高; 2 cl,6 dwg

著录项

  • 公开/公告号RU2244271C1

    专利类型

  • 公开/公告日2005-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号RU20030114123

  • 发明设计人 MOISEEV N.V.;NEKRASOV JA.A.;

    申请日2003-05-13

  • 分类号G01H11/06;B81C5/00;

  • 国家 RU

  • 入库时间 2022-08-21 22:02:12

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