机译:温度成像装置的定影装置的控制方法。使用静电照相过程-涉及纠正实际温度之间发生的任何误差。记录介质加热装置的温度和检测温度由于温度检测的时间延迟。探测器
公开/公告号DE4447912B4
专利类型
公开/公告日2005-05-19
原文格式PDF
申请/专利权人 SEIKO EPSON CORP. TOKIO/TOKYO;
申请/专利号DE19944447912
申请日1994-10-17
分类号G03G15/20;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 22:00:01