要解决的问题:通过在分级电路信息中反映从布局信息中提取的物理信息,同时保持分级结构,生成具有物理信息的分级电路信息,从而实现电路仿真的加速和数据量的减少,从而实现在保持准确性的同时,对层次结构的电路信息进行处理。
解决方案:此方法包括物理信息提取过程,用于提取有关单个单元(例如,寄生元件,寄生耦合元件,元件的形状参数,性能或从布局信息或物理信息获取设备的特性,以及用于将物理信息反映到由层次构成的电路信息并在保持层次结构的同时获取层次电路信息的物理信息反映过程。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006184938A
专利类型
公开/公告日2006-07-13
原文格式PDF
申请/专利权人 MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD;
申请/专利号JP20040374591
申请日2004-12-24
分类号G06F17/50;H01L21/82;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:56:49