要解决的问题:提供一种用于生成缺陷数据并补偿不足以提高识别率的模式识别方法,以及一种用于该模式识别方法的示教数据生成方法。解决方案:一种外观检查装置,其用于基于存储在示教文件中的许多示教数据来进行学习,识别图案并判断缺陷,该示教数据产生装置40具有用于通过使一个数据变形来生成新的示教数据的示教数据生成装置40。然后,教学数据生成装置40通过使存储在教学文件35中的许多教学数据中的具有少量数据的特定教学数据变形来生成新的教学数据,将生成的教学数据补充到教学文件中以识别教学中的缺陷数据。当要产生的示教数据是图像数据时,包括图像的放大,缩小和旋转的仿射变换以及包括亮度,对比度和边缘强度的属性变换被执行以产生新的示教数据。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006048370A
专利类型
公开/公告日2006-02-16
原文格式PDF
申请/专利权人 KAGAWA UNIV;FUTEC INC;
申请/专利号JP20040228392
申请日2004-08-04
分类号G06T7;G01N21/88;G06N3;G06T1;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:54:10