要解决的问题:处理未知结构的物质,精确识别母离子的结构并绘制估计的结构。
解决方案:获取有关电离样品的质谱数据,并使用该样品作为母体离子解离的离子,通过分子轨道分析得出关于所建议的母体结构的解离离子的建议离子,显示关于母离子的提议和离解离子的提议的分析结果,并且将提议的离解离子的数据与实际观察到的离解离子的数据进行比较,以评估提议的母离子的结构。
版权:(C)2004,日本特许厅
公开/公告号JP3743717B2
专利类型
公开/公告日2006-02-08
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社日立製作所;
申请/专利号JP20020185072
申请日2002-06-25
分类号G01N27/62;H01J49/26;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:48:42