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机译:用于测量数控机床精度的设备
公开/公告号PL374749A1
专利类型
公开/公告日2006-10-30
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL20050374749
发明设计人 SZAFARCZYK MACIEJ;
申请日2005-04-28
分类号G05B19/18;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 21:37:54
机译: 用于检查数控机器的尺寸精度的器具和用于检查数控机器的尺寸精度的方法
机译: 用于测量数控机床精度的设备
机译: 数控机床的精度测量方法,误差校正方法以及具有误差校正功能的数控机床