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Appliance for measuring accuracy of the numerically controlled machines

机译:用于测量数控机床精度的设备

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL207418B1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;

    申请/专利号PL20050374749

  • 发明设计人 SZAFARCZYK MACIEJ;

    申请日2005-04-28

  • 分类号G01B21/04;G05B19/18;G05B19/401;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-21 18:04:56

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