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INTERFEROMETRIC CONFOCAL MICROSCOPY INCORPORATING A PINHOLE ARRAY BEAM-SPLITTER

机译:干涉形共聚焦显微镜,包含针状阵列光束分离器

摘要

A confocal interferometry system (110) for making measurements of an object (60), the system including an array of pinholes (12) to receive a source beam (24) and act as an array of beamsplitters to separate the source beam into a reference beam and measurement beam.
机译:共焦干涉测量系统(110),用于测量物体(60),该系统包括针孔阵列(12),用于接收源光束(24),并用作分束器阵列,以将源光束分离为参考光束和测量光束。

著录项

  • 公开/公告号KR20060011938A

    专利类型

  • 公开/公告日2006-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ZETETIC INSTITUTE;

    申请/专利号KR20057013865

  • 发明设计人 HILL HENRY ALLEN;

    申请日2005-07-27

  • 分类号G02B21/14;G01B9/02;G02B21/18;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 21:26:36

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