要解决的问题:提供一种缺陷因素对策装置,其考虑到永久性对策与暂定对策之间的平衡,基于负责工艺改进的人员选择性地输出对策。
解决方案:当通过输入部分输入缺陷内容时(S11),因子估计部分估计缺陷的因子(S12)。当估计因子时,参考对策数据库,并检索针对该因子的对策(S13)。从基于因数估计部估计的因数而找到的对策中,找到采取对策时可以应对的缺陷数,以及可以应对的缺陷数与缺陷对的比率。计算全部缺陷,即覆盖率(S14)。以覆盖率的降序在显示器上输出对策(S15)。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007179535A
专利类型
公开/公告日2007-07-12
原文格式PDF
申请/专利权人 OMRON CORP;
申请/专利号JP20060311448
申请日2006-11-17
分类号G06Q50;G05B19/418;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:44