要解决的问题:提供一种用于校正在电子天平中发生的漂移现象(特别是蠕变效应)的方法,该电子天平具有测量转换器,该测量转换器用于生成表示施加到力上的负载的测量信号(ms)测量装置。
解决方案:在处理器优化程序的控制下,使用处理器130和16和信号处理单元13自动确定由用户自动控制或选择的时间间隔CI1和CI2上的漂移参数P1,P2等的新优化值。 P 版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007003522A
专利类型
公开/公告日2007-01-11
原文格式PDF
申请/专利权人 METTLER-TOLEDO AG;
申请/专利号JP20060169844
申请日2006-06-20
分类号G01G23/01;G01G7/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:15:07