要解决的问题:提供一种电阻值测量系统,该系统能够在所有测量电阻模式下在短时间内测量电阻值。解决方案:该系统包括与测量电阻RS并联并与测量电阻RS构成并联电路的旁路电阻RA,与并联电路连接的电源,电压改变装置,用于改变施加到测量电阻RS的电压。并联电路,电流表A,其测量在电压改变装置施加到并联电路的电压改变之前和之后在并联电路的预定位置中携带的电流的电流值,以及确定装置,确定测量的电阻值电阻RS基于电流表A测得的电流值。
版权所有:(C)2007,JPO&INPIT
公开/公告号JP2007093575A
专利类型
公开/公告日2007-04-12
原文格式PDF
申请/专利权人 STAR MICRONICS CO LTD;
申请/专利号JP20060049085
发明设计人 NOZAWA AKIHIRO;
申请日2006-02-24
分类号G01R27/02;G01R31/04;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:14:18