要解决的问题:在不增加短TAT(周转时间:处理时间)和芯片面积的情况下,抑制任何串扰噪声的产生。
解决方案:在这种由计算机进行电路设计的电路设计方法中,计算机执行用于验证任何噪声错误的产生的噪声错误产生验证过程,用于为其中指定电池的噪声容限指定噪声容限指定过程。确定噪声误差是由噪声误差产生验证过程和参数值确定过程产生的,该参数值确定过程用于在满足由噪声容许量指定过程确定的噪声容许量的过程中确定参数值。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007102276A
专利类型
公开/公告日2007-04-19
原文格式PDF
申请/专利权人 FUJITSU LTD;
申请/专利号JP20050287535
申请日2005-09-30
分类号G06F17/50;H01L21/82;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:12:57