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METHOD FOR MEASURING DEFORMATION OF TEST PIECE AND SYSTEM FOR ATTACHING MARK TO ITS TEST PIECE

机译:试件变形的测量方法及试件的附标记系统

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for attaching a mark to a test piece and measuring the deformation property of the test piece to decide the deformation property of the test piece by including the measurement of the macro or micro deformation of the test piece.;SOLUTION: A method and an apparatus for attaching and measuring the mark to the test piece form a high resolution gage mark for deciding the deformation property of the test piece using an energy type system.;COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种方法和设备,用于将标记附着到测试件上并测量测试件的变形特性,从而通过包括测量部件的宏观或微观变形来确定测试件的变形特性。解决方案:一种将标记附着到测量件上并对其进行测量的方法和装置形成一种高分辨率量规标记,用于使用能量类型系统来确定测试件的变形特性。;版权:(C)2007,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP2006337360A

    专利类型

  • 公开/公告日2006-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CORDIS CORP;

    申请/专利号JP20060127735

  • 申请日2006-05-01

  • 分类号G01B21/32;G01B11/16;G01B15/06;G01N3/06;B23K26/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:11:48

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