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The program as well as the power supply voltage variation analysis method used to it and the power supply voltage variation analysis device

机译:程序以及用于它的电源电压变化分析方法和电源电压变化分析装置

摘要

There is provided a power supply voltage fluctuation analyzing method which performs power supply voltage fluctuation analysis for a semiconductor product, and the method comprises a step of determining a power consumption distribution in each function cell of the semiconductor product by using a power supply portion position and a ratio of each portion based on stored information of an input library which stores therein the power supply portion position and ratio information for each function cell of the semiconductor product, and allocating a power consumption to each function cell.
机译:提供一种电源电压波动分析方法,该方法对半导体产品执行电源电压波动分析,该方法包括以下步骤:通过使用电源部分的位置和位置确定半导体产品的每个功能单元中的功耗分布。基于输入库的存储信息的每个部分的比率,该输入库中存储了半导体产品的每个功能单元的电源部分位置和比率信息,并为每个功能单元分配了功耗。

著录项

  • 公开/公告号JP3983090B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-09-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NECエレクトロニクス株式会社;

    申请/专利号JP20020121560

  • 发明设计人 大峠 和夫;

    申请日2002-04-24

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:10:37

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