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LSI inspection module, control method for LSI inspection module, communication method between LSI inspection module and inspection apparatus, and LSI inspection method

机译:LSI检查模块,LSI检查模块的控制方法,LSI检查模块与检查装置之间的通信方法以及LSI检查方法

摘要

In an LSI inspection module, an I/O interface compatible with the I/O interface of an LSI as an inspection target is provided and testing data is stored in a memory for test data. During inspection, an LSI inspection apparatus controls the interface control circuit of the inspection module by setting the value of a status control flag and performs the outputting of the testing data to the target LSI and the reading of result data outputted from the target LSI in accordance with the testing data.
机译:在LSI检查模块中,提供与作为检查目标的LSI的I / O接口兼容的I / O接口,并且将测试数据存储在用于测试数据的存储器中。在检查期间,LSI检查设备通过设置状态控制标志的值来控制检查模块的接口控制电路,并根据目标LSI执行测试数据的输出和从目标LSI输出的结果数据的读取。与测试数据。

著录项

  • 公开/公告号US2007033473A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WATARU ITO;

    申请/专利号US20060476565

  • 发明设计人 WATARU ITO;

    申请日2006-06-29

  • 分类号G01R31/28;G06F11;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:01:43

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