首页> 外国专利> Wafer back side coating to balance stress from passivation layer on front of wafer and be used as die attach adhesive

Wafer back side coating to balance stress from passivation layer on front of wafer and be used as die attach adhesive

机译:晶圆背面涂层可平衡来自晶圆正面钝化层的应力,并用作芯片粘接剂

摘要

A method for balancing layer-caused compressive or tensile stress in a semiconductor die, die wafer or similar substrate uses a stress-balancing layer (SBL) attached to the opposite side from the stress-causing layer before the die or wafer is significantly warped are provided. The SBL may also serve as, or support, an adhesive layer for die attach, and be of a markable material for an enhance marking method.
机译:一种用于平衡半导体管芯,管芯晶片或类似衬底中由层引起的压缩应力或拉应力的方法,该方法使用在管芯或晶片显着翘曲之前附着在与应力产生层相反的一侧的应力平衡层(SBL)。提供。 SBL还可以用作或支撑用于管芯附着的粘合层,并且可以是用于增强标记方法的可标记材料。

著录项

  • 公开/公告号US7169685B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICHAEL E. CONNELL;TONGBI JIANG;

    申请/专利号US20020082372

  • 发明设计人 MICHAEL E. CONNELL;TONGBI JIANG;

    申请日2002-02-25

  • 分类号H01L21/301;H01L21/46;H01L21/78;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:00:08

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号