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Nanofabrication of InAs/A1Sb heterostructures

机译:InAs / A1Sb异质结构的纳米加工

摘要

A heterostructure comprising: a buffer layer; a bottom barrier layer formed on the buffer layer; a quantum well layer formed on the bottom barrier layer; a top barrier layer formed on the quantum well layer; and a p-doped cap layer formed on the top barrier layer; wherein a portion of the cap layer is etched to form conducting electrons in the quantum well layer below the etched portion of the cap layer. A method of etching comprising the steps of: providing a heterostructure; providing an etchant solution comprising acetic acid, hydrogen peroxide, and water; and contacting the etchant solution to the heterostructure to etch the heterostructure.
机译:一种异质结构,包括:缓冲层;在缓冲层上形成的底部阻挡层;在底部阻挡层上形成的量子阱层;形成在量子阱层上的顶部阻挡层;在顶部阻挡层上形成p掺杂的盖层。其中蚀刻覆盖层的一部分以在覆盖层的蚀刻部分下方的量子阱层中形成导电电子。一种蚀刻方法,包括以下步骤:提供异质结构;提供包含乙酸,过氧化氢和水的蚀刻剂溶液;使蚀刻剂溶液与异质结构接触以蚀刻异质结构。

著录项

  • 公开/公告号US7157299B2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-01-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MING-JEY YANG;CHIA-HUNG YANG;

    申请/专利号US20030725257

  • 发明设计人 MING-JEY YANG;CHIA-HUNG YANG;

    申请日2003-12-02

  • 分类号H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:59:59

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