首页> 外国专利> Fremgangsmate og anording for temperaturkompensering av integrert kretsbrikke ved bruk av sensor pa brikken og beregningsorganer

Fremgangsmate og anording for temperaturkompensering av integrert kretsbrikke ved bruk av sensor pa brikken og beregningsorganer

机译:利用芯片上的传感器进行集成电路芯片温度补偿的方法和装置及计算装置

摘要

En framgangsmåte og anordning for temperaturkompensering for en integrert krets som bruker on-chip kretser, sensorer og en kalibreringsalgoritme. Chipen inkluderer en on-chip referansekrets (12), en on-chip sensor (26) som måler en parameter i forhold til referansen, og et on-chip beregningsmiddel (18) for prosessering av en algoritme. En supplementerende off-chip referansekrets (16) blir også benyttet. Algoritmen utfører de følgende trinn: (A) utførelse av en første kalibrering av en intern referanse som befinner seg på et integrert kretssystem on-chip ved en første (høyere) temperatur på et første teststed, og (B) utnyttelse av kalibreringsdata tilveiebrakt i trinnet (A) for å utføre en andre kalibrering av den interne referansekilde som befinner seg på det integrerte system on-chip ved en andre (lavere) temperatur ved et andre teststed. 1
机译:一种使用片上电路,传感器和校准算法对集成电路进行温度补偿的方法和装置。该芯片包括片上参考电路(12),测量相对于参考的参数的片上传感器(26)以及用于处理算法的片上计算装置(18)。还使用了辅助的片外参考电路(16)。该算法执行以下步骤:(A)在第一测试位置的第一(较高)温度下对位于片上集成电路系统上的内部参考进行第一校准,以及(B)利用该步骤中提供的校准数据(A)在第二测试地点的第二(较低)温度下对位于片上集成系统上的内部参考源进行第二次校准。 1个

著录项

  • 公开/公告号NO20064517A

    专利类型

  • 公开/公告日2006-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ATMEL CORP;

    申请/专利号NO20060004517

  • 发明设计人 AAS ARNE;GANGSTO GUNNAR;

    申请日2006-10-04

  • 分类号G01R35/00;

  • 国家 NO

  • 入库时间 2022-08-21 20:57:00

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号