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ELECTROMAGNETIC WAVE GENERATING SOURCE PROBING DEVICE, METHOD THEREFOR AND ANALYZING METHOD THEREFOR

机译:电磁波产生源探测装置,其方法和分析方法

摘要

Electromagnetic wave source detecting analyzingapparatus and method that can detect and/or analyze asource of (electromagnetic disturbing wave) representing amain factor in generating an electromagnetic fieldremotely of the apparatus in order to suppress theelectromagnetic field intensity at the remote distancefrom the apparatus to below a regulated value. A magneticfield near an object is measured by a set of probes. Aposition of an electromagnetic wave source is detectedusing a phase difference between the two probes. Acurrent distribution on the measured object is determinedby solving simultaneous equations containing the positioninformation and magnitudes of measured magnetic fields.An electromagnetic field at a remote distance from theapparatus is determined from the current distribution toidentify the source of the electromagnetic field.
机译:电磁波源检测分析可以检测和/或分析电磁干扰波的来源产生电磁场的主要因素远离设备以抑制远距离的电磁场强度从设备到规定值以下。磁性用一组探针测量物体附近的磁场。一种检测电磁波源的位置使用两个探头之间的相位差。一种确定被测物体上的电流分布通过求解包含位置的联立方程信息和测量磁场的大小。远离电磁场的电磁场从当前的分布确定设备确定电磁场的来源。

著录项

  • 公开/公告号CA2367732C

    专利类型

  • 公开/公告日2007-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD.;

    申请/专利号CA20002367732

  • 发明设计人 UESAKA KOUICHI;SHINBO KENICHI;

    申请日2000-04-21

  • 分类号G01R29/08;G01S5/12;

  • 国家 CA

  • 入库时间 2022-08-21 20:54:08

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