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FARADAY DEVICE OF ION IMPLANTATION SYSTEM AND METHOD FOR SUPPLYING BAIS VOLTAGE OF FARADAY THEREOF

机译:离子注入系统的法拉第装置及其提供法拉第贝斯电压的方法

摘要

A faraday device of an ion implantation apparatus is provided to prevent the count error of an ion quantity by adjusting the suppression bias voltage according to the variation quantity of ion energy. A faraday cup(24) measures the dosage according to the implantation of ions, installed in the rear part of a disk on which a wafer(10) is mounted. A current meter(25) measures the dosage implanted into the faraday cup by using beam current. A controller generates different suppression bias voltage controlling signals according to an ion implantation energy band. A via voltage adjusting part(32) generates a reverse voltage for suppressing secondary electrons corresponding to an ion energy band in response to the suppression bias voltage controlling signal of the controller.
机译:提供一种离子注入设备的法拉第装置,以通过根据离子能量的变化量调节抑制偏压来防止离子量的计数误差。法拉第杯(24)根据离子的注入来测量剂量,离子被安装在安装有晶片(10)的盘的后部中。电流计(25)通过使用束电流来测量注入法拉第杯的剂量。控制器根据离子注入能带产生不同的抑制偏压控制信号。通孔电压调节部分(32)响应于控制器的抑制偏置电压控制信号而产生用于抑制与离子能带相对应的二次电子的反向电压。

著录项

  • 公开/公告号KR20070075932A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-07-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20060004717

  • 发明设计人 WEE SUNG HYCK;SHIN GUM HYUN;

    申请日2006-01-17

  • 分类号H01L21/265;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:34:01

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