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Mask layer pattern for cell halo implantation and method of cell halo implanting using the same

机译:用于细胞光晕植入的掩模层图案以及使用该掩模层图案的细胞光晕植入的方法

摘要

A mask pattern and a cell halo ion implantation method using the same are provided to prevent the damage of an upper surface of the mask pattern by using a hole type opening portion for exposing a bit line contact region alone to the outside. A cell halo ion implantation mask pattern(250) is used for performing a cell halo ion implantation on a bit line contact region of a semiconductor device. The semiconductor device includes a semiconductor substrate having an active region(220) defined by an isolation layer(210) and a gate stack(240) on the substrate via a gate insulating layer. The cell halo ion implantation mask pattern includes a hole type opening portion for exposing the bit line contact region alone to the outside.
机译:提供一种掩模图案和使用该掩模图案的单元卤离子注入方法,以通过使用用于将位线接触区域单独暴露于外部的孔型开口部分来防止掩模图案的上表面的损坏。单元卤离子注入掩模图案(250)用于在半导体器件的位线接触区域上进行单元卤离子注入。该半导体器件包括半导体衬底,该半导体衬底具有由隔离层(210)限定的有源区(220)和经由栅绝缘层在衬底上的栅堆叠(240)。单元卤素离子注入掩模图案包括用于将位线接触区域单独暴露于外部的孔型开口部分。

著录项

  • 公开/公告号KR100702129B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20050090117

  • 发明设计人 한병희;

    申请日2005-09-27

  • 分类号H01L21/265;H01L21/336;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:32:34

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