机译:电子电路的阻抗测量方法,例如MOSFET涉及确定与误差值相对应的值的误差曲线,并计算针对误差值的测量频率的不同值而要估计的阻抗
公开/公告号DE102007016372A1
专利类型
公开/公告日2007-10-04
原文格式PDF
申请/专利权人 SUSS MICROTEC TEST SYSTEMS GMBH;
申请/专利号DE20071016372
申请日2007-04-03
分类号G01R31/28;G01R27/28;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 20:29:09