要解决的问题:提出一种新技术,通过拟合(匹配)理论光谱和实际测量光谱来减少温度的计算时间。解决方案:一种温度分析方法,包括:步骤(S1 / S2),用于通过将在第一温度范围(TC-TD)中定义的部分理论光谱与特定温度(Tb / Tc)拟合,至少获得一次近似温度T。 / Td),以先前的温度分析作为参考,以及实际测量的光谱;步骤(S3 / S4),其通过将比第一温度范围窄的第二温度范围(TE-TF)中定义的总理论光谱拟合,并以近似温度T作为参考来实际计算光谱,从而获得计算温度T。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008151669A
专利类型
公开/公告日2008-07-03
原文格式PDF
申请/专利号JP20060340590
申请日2006-12-18
分类号G01K13/02;G01K11;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:24:34