要解决的问题:在多个平板型多阳极光电倍增管被连接并布置在XY平面中的情况下,为了精确地操作和存储入射位置和入射时间。
解决方案:中子入射位置检测装置包括:中子入射位置检测器;多个中子入射位置操作存储电路板F,其具有连接通道信号接收存储装置,相邻通道信号发送装置,相邻通道信号接收存储装置和中子入射位置操作存储装置。中子入射位置检测器具有中子闪烁器S和多个平板型多阳极光电倍增管P。多个平板型多阳极光电倍增管P和对应的多个中子入射位置运算存储电路板F分别为:与多个连接通道信号传输路径4中的每一个连接的相邻通道信号传输路径6和设置有相邻通道信号传输路径和相邻通道信号接收路径的相邻通道信号传输路径6连接两个中子入射位置操作存储电路板F。 >版权:(C)2008,日本特许厅和INPIT
公开/公告号JP2008008675A
专利类型
公开/公告日2008-01-17
原文格式PDF
申请/专利号JP20060177083
申请日2006-06-27
分类号G01T3/06;G01T7/00;G01T3/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:23:42