解决方案:元素分析仪具有用于将样品S安装在内部并进行熔融处理的熔融炉1,用于向熔融炉1中供给氧气的氧气供给路径1a,用于对样品进行二次处理的二次处理系统20。从熔融炉1送出的气体,以及用于测定经过二次处理的试样气体中的特定成分浓度的气体分析仪2。元素分析仪的特征在于,在二次处理系统20中内置有具有活性炭的吸附处理部3。
COPYRIGHT:(C)2008,JPO&INPIT
公开/公告号JP2008157799A
专利类型
公开/公告日2008-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 HORIBA LTD;
申请/专利号JP20060348017
申请日2006-12-25
分类号G01N31/00;G01N31/12;G01N30/00;G01N30/88;G01N30/26;G01N21/61;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:23:33