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MICROPATTERN OBSERVATION DEVICE AND MICROPATTERN CORRECTION DEVICE USING THE SAME

机译:微电脑观测装置和使用相同的微电脑校正装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a micropattern correction device capable of providing an observed image, without irregularities.;SOLUTION: In this micropattern correction device, a glass surface plate 9 is divided into two sub-glass surface plates 10 and 11 movably disposed horizontally. When a lifter pin hole 22 of the sub glass surface plate 11 exists under an observation position P, the sub-glass surface plate 11 is moved to separate the lifter pin hole 22 from the observation position P. Thus, irregularities of the observation image, resulting from the lifter pin hole 22, can be eliminated.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种能够提供观察到的图像而没有不规则的微图案校正装置;解决方案:在该微图案校正装置中,玻璃面板9被分为可水平移动的两个副玻璃面板10和11。 。当副玻璃面板11的升降销孔22位于观察位置P的下方时,副玻璃面板11移动,以使升降销孔22与观察位置P分离。版权所有。(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2008128891A

    专利类型

  • 公开/公告日2008-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NTN CORP;

    申请/专利号JP20060315700

  • 发明设计人 YAMANAKA AKIHIRO;

    申请日2006-11-22

  • 分类号G01N21/956;G09F9/00;G02B5/20;G02F1/13;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 20:21:23

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