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HIGH RESISTANCE GaN THIN FILM, AND VAPOR PHASE EPITAXIAL GROWTH METHOD FOR THE SAME

机译:同样的高电阻GaN薄膜和气相相表观生长方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a GaN thin film with high resistance of 10,000 Ωcm or more in a short period of time and with ease.;SOLUTION: In forming a GaN thin film in the MOCVD method using ammonia and trimethyl gallium as materials, film formation is carried out with organic aluminum materials entrained. Trimethyl aluminum, triethyl aluminum and tri-isobutyl aluminum are used for the organic aluminum materials, which are supplied at vapor phase molar fraction of 5% or less to the supply amount of trimethyl gallium.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:在短时间内且容易地获得具有10,000Ωcm或更高的高电阻的GaN薄膜;解决方案:使用氨和三甲基镓作为MOCVD方法形成GaN薄膜。在材料中,成膜是通过夹带有机铝材料进行的。有机铝材料使用三甲基铝,三乙基铝和三异丁基铝,它们的汽相摩尔分数为三甲基镓的供应量的5%或更少。;版权所有:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2008130971A

    专利类型

  • 公开/公告日2008-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAIYO NIPPON SANSO CORP;

    申请/专利号JP20060317030

  • 发明设计人 YANO YOSHIKI;TOKUNAGA HIROKI;

    申请日2006-11-24

  • 分类号H01L21/205;C23C16/34;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 20:20:58

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