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METHOD FOR CALCULATING REMAINING LIFE, DEVICE EXECUTING THE SAME AND PROGRAM CALCULATING REMAINING LIFE

机译:计算剩余寿命,执行相同装置的程序和计算剩余寿命的程序

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily calculate remaining life of a components of a device even during operation of the device.;SOLUTION: Instrument data of the device is stored in an inspection record database 3. Then data A at start of a use period M, data A1 at finish of the same, and an abnormal set value Ds with which it is assumed that the component reaches life thereof from the database 3 (S21). Then, data change quantity (A0 - A1) during the use period M is divided by the use period M to define data change rate α (S22). Remaining life β which is a period from finish of the use period M until attainment to abnormal set value Ds is defined by using the data change rate α (S23).;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:即使在设备运行期间也要轻松计算设备组件的剩余寿命。;解决方案:设备的仪器数据存储在检查记录数据库3中。然后在使用期开始时的数据A ,结束时的数据A1,以及从数据库3中假设该组件达到其寿命的异常设定值Ds(S21)。然后,将使用周期M期间的数据变化量(A 0 -A 1 )除以使用周期M,以定义数据变化率α。 (S22)。剩余生活β通过使用数据变化率α定义从使用期M的结束直到达到到异常设定值Ds的时间段。 (S23).;版权:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2008050965A

    专利类型

  • 公开/公告日2008-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HITACHI LTD;

    申请/专利号JP20060226383

  • 发明设计人 SAWAHATA SATOSHI;SAEGUSA SHIGERU;

    申请日2006-08-23

  • 分类号F02C7/00;F01D25/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 20:20:27

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