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Measurement control device, contour measuring instrument and measurement control method

机译:测量控制装置,轮廓测量仪器及测量控制方法

摘要

An approach controller (234) of a coordinate measuring instrument enables a position control loop (RP) and drives an actuator (133) so that a force sensor (1) is brought to a close position under a position control. When recognizing that the force sensor (1) reaches the close position, a contact controller (235) controls a switch (227) to enable a force control loop (RF) and drives the actuator (133) to bring the force sensor (1) into contact with a workpiece under a force control.
机译:坐标测量仪的接近控制器( 234 )启用位置控制环(RP)并驱动执行器( 133 ),从而使力传感器( 1 )置于位置控制下的关闭位置。当识别到力传感器( 1 )到达闭合位置时,接触控制器( 235 )控制开关( 227 )以启用力控制环(RF)并驱动执行器( 133 ),使力传感器( 1 )在力控制下与工件接触。

著录项

  • 公开/公告号US2007266781A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KENTARO NEMOTO;TAKESHI YAMAMOTO;

    申请/专利号US20070798452

  • 发明设计人 KENTARO NEMOTO;TAKESHI YAMAMOTO;

    申请日2007-05-14

  • 分类号G01B21/30;G01B21/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:14:28

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