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Kelvin contact measurement device and kelvin contact measurement method

机译:开尔文接触测量装置和开尔文接触测量方法

摘要

Stable Kelvin contact is made upon positional deviation of object. Force pins 12a and sense pins 12b contact with each ball terminal 51 of object 50 for measuring electric property. Force pins 12a and sense pins 12b are extendable and contractable and urged to ball terminal 51 by elastic member 13. Four force and sense pins correspond to one ball terminal. At least one force pin 12a and at least one sense pin 12b are arranged to come into contact with the one ball terminal 51. The object is positioned in concave portion 21 of lower socket 20. Force and sense pins are elastically supported by frame 11 of upper socket 10.
机译:根据物体的位置偏差进行稳定的开尔文接触。力销 12 a 和感测销 12 b 与每个球形端子 51 接触物体 50 的测量电性能。力销 12 a 和感测销 12 b 可伸缩,并被推向球形端子 51 通过弹性构件 13 。四个力和感测引脚对应一个球形端子。至少一个力销 12 a 和至少一个感测销 12 b 布置成与之接触一个球形端子 51 。该物体位于下插座 20 的凹部 21 中。力和感测引脚由上插槽 10的框架 11 弹性支撑。

著录项

  • 公开/公告号US2007279078A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TSUTOMU IWAMI;

    申请/专利号US20070785297

  • 发明设计人 TSUTOMU IWAMI;

    申请日2007-04-17

  • 分类号G01R1/073;G01R31/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:11:36

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