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Dark-field laser-scattering microscope for analyzing single macromolecules

机译:用于分析单个大分子的暗场激光散射显微镜

摘要

To further isolate the scattered light 112 of a specific particle from the scattered light of a different particle, a pin hole device 116 can be used. The pin hole device 116 prevents unfocused light from other particles from entering the second plane 118, thus isolating a desired, focused image of one particle 110 of the sample 106. In one embodiment, the pin hole 116 has a size of several microns. At the second plane 118, a traditional imaging detection device 120 detects the defocused light. The position of the second image plane 118 is chosen for good angular resolution of the scattered light 112, and at the same time gives enough light for the imaging detection device 120 to obtain a sufficient reading.
机译:为了进一步将特定粒子的散射光 112 与其他粒子的散射光隔离开,可以使用针孔装置 116 。针孔装置 116 防止来自其他粒子的未聚焦光进入第二平面 118 ,从而隔离一个粒子 110 的所需聚焦图像。 106 的样本。在一实施例中,销孔 116 具有几微米的尺寸。在第二平面 118 上,传统的成像检测设备 120 检测散焦的光。选择第二像面 118 的位置是为了获得良好的散射光 112 的角度分辨率,同时为成像检测设备提供足够的光120 以获取足够的读数。

著录项

  • 公开/公告号US7365835B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHENG WU;YONGCHUN TANG;

    申请/专利号US20040004492

  • 发明设计人 YONGCHUN TANG;SHENG WU;

    申请日2004-12-02

  • 分类号G01N21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:09:57

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