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Fabrication of vertical sidewalls on (110) silicon substrates for use in Si/SiGe photodetectors

机译:用于Si / SiGe光电探测器的(110)硅基板上的垂直侧壁的制造

摘要

A method of fabricating vertical sidewalls on silicon (110) substrates for use in Si/SiGe photodetectors includes preparing a silicon (110) layer wherein the silicon (110) plane is parallel to an underlying silicon wafer surface. Masking the silicon (110) layer with mask sidewalls parallel to a silicon (111) layer plane and etching the silicon (110) layer to remove an un-masked portion thereof, leaving a patterned silicon (110) layer having vertical silicon (111) sidewalls. Removing the mask; growing SiGe-containing layers on the patterned silicon (110) layer; and fabricating a photodetector.
机译:在Si / SiGe光电探测器中使用的在硅(110)衬底上制造垂直侧壁的方法包括制备硅(110)层,其中硅(110)平面平行于下面的硅晶片表面。用平行于硅(111)层平面的掩模侧壁对硅(110)层进行掩模并蚀刻硅(110)层以去除其未掩模的部分,从而留下具有垂直硅(111)的图案化硅(110)层侧壁。取下面罩;在图案化的硅(110)层上生长含SiGe的层;和制造光电探测器。

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