退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:低温电子显微镜(CEM),微反应器和装载平台的样品制备方法。
公开/公告号NL1032224C2
专利类型
公开/公告日2008-01-22
原文格式PDF
申请/专利权人 TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT;
申请/专利号NL20061032224
发明设计人 CHI-WON AHN;HENDRIK WILLEM ZANDBERGEN;
申请日2006-07-21
分类号G01N1/42;H01J37/20;
国家 NL
入库时间 2022-08-21 20:06:52
机译: 低温电子显微镜(CEM),微反应器和加载平台的样品制备方法
机译: 冷冻电子显微镜的气相样品制备