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TWO-DIMENSIONAL PATTERN MATCHING METHOD, FEATURE EXTRACTION METHOD, AND DEVICE AND PROGRAM USED FOR THESE METHODS

机译:二维模式匹配方法,特征提取方法以及用于这些方法的设备和程序

摘要

A two-dimensional pattern matching method includes a step of extracting reference feature data by projecting the vector expression of either an input reference two-dimensional pattern or a converted reference two-dimensional pattern to a feature space, the converted reference two-dimensional pattern being generated by converting the input reference two-dimensional pattern. A pre-registered registered feature data and the reference feature data are back-projected to a two-dimensional pattern expression space having the dimension of the vector expression to calculate the degree of similarity. This provides a matching technique having a small data size of the feature amount and robust to displacement and image distortion.
机译:二维图案匹配方法包括以下步骤:通过将输入参考二维图案或转换后的参考二维图案的矢量表达式投影到特征空间来提取参考特征数据,转换后的参考二维图案为通过转换输入参考二维图案生成。将预先注册的注册特征数据和参考特征数据反向投影到具有向量表达的维度的二维图案表达空间中,以计算相似度。这提供了具有小特征量的数据大小并且对位移和图像失真鲁棒的匹配技术。

著录项

  • 公开/公告号WO2008133235A1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;KAMEI TOSHIO;

    申请/专利号WO2008JP57689

  • 发明设计人 KAMEI TOSHIO;

    申请日2008-04-21

  • 分类号G06T7/00;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 19:56:32

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