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APPRATUSS FOR CLEANING A SURFACE OF WAFERS, NOZZLE ARM AND METHOD FOR CLEANING A SURFACE OF WAFERS

机译:用于清洁晶片表面的装置,喷嘴臂和用于清洁晶片表面的方法

摘要

A wafer surface cleaning apparatus and a method for cleaning a nozzle arm and a surface of a wafer are provided to enhance productivity by simplifying a manufacturing process and lowering an error rate. A wafer surface cleaning apparatus includes a chamber wall(110), a rotary shaft(120), a chuck(130) positioned on an upper part of the rotary shaft to load a wafer on an upper surface thereof, an injection hole(160) formed in the inside of the chuck to inject gas or liquid onto a bottom surface of the wafer, and a nozzle arm(180) for injecting the gas, water, and chemicals onto the surface of the wafer loaded on the upper surface of the chuck. The nozzle arm includes a plurality of unit nozzles. The chuck includes a wafer supporting ring and a plurality of wafer fixing pins.
机译:提供一种晶片表面清洁设备以及用于清洁喷嘴臂和晶片表面的方法,以通过简化制造过程并降低错误率来提高生产率。晶片表面清洁装置包括:腔室壁(110),旋转轴(120),位于旋转轴的上部以将晶片装载在其上表面上的卡盘(130),注入孔(160)。形成在卡盘内部以将气体或液体注入到晶片的底表面上,并且喷嘴臂(180)用于将气体,水和化学物质注入到装载在卡盘上表面的晶片的表面上。喷嘴臂包括多个单元喷嘴。该卡盘包括晶片支撑环和多个晶片固定销。

著录项

  • 公开/公告号KR20070109635A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20060042910

  • 发明设计人 MAENG DONG CHO;PARK JUN MO;

    申请日2006-05-12

  • 分类号H01L21/304;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 19:54:53

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