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Failure rate evaluation method and failure rate evaluation system

机译:故障率评估方法和故障率评估系统

摘要

A defective ratio evaluation method includes a step (100) of classifying defective information describing product structure and manufacturing features which become product defective occurrence factors and making the defective information accessible, a step (110, 120, 130) of comparing design information of a product to be evaluated with the detective information, computing types of defective information and a number of defective information items included in the design information, and computing, using the types of defective information and the number of defective information items thus computed, a degree of occurrence of an event in which the evaluation objective product becomes defective; and a step (140) of displaying the degree of defective occurrence thus computed. IMAGE
机译:不良率评价方法包括对描述成为商品不良发生因素的产品结构和制造特征的不良信息进行分类,使不良信息可访问的步骤(100),比较商品的设计信息的步骤(110、120、130)。用检测信息进行评估,计算缺陷信息的类型和包括在设计信息中的缺陷信息的数量,并使用缺陷信息的类型和由此计算的缺陷信息的数量来计算评估目标产品出现缺陷的事件;显示由此计算出的次品发生程度的步骤(140)。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号JP4317605B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立製作所;

    申请/专利号JP19980274544

  • 发明设计人 鈴木 辰哉;

    申请日1998-09-29

  • 分类号G06Q50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:41:19

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