首页> 外国专利> DESIGN ENVIRONMENT TRANSPARENT TYPE FUNCTION TEST SYSTEM

DESIGN ENVIRONMENT TRANSPARENT TYPE FUNCTION TEST SYSTEM

机译:设计环境透明类型功能测试系统

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To enable a transparent type function test with a built-in CPU without converting a design test pattern by connecting a mounted FPGA and a device to be tested to perform a test in a real machine. PSOLUTION: A design environment transparent type function test system mounts, on the FPGA, an HDL design environment used for verification on a simulator including the CPU, achieves a transparent type function test verifying an actual circuit (S6), and achieves a co-verification environment by means of the transparent type function test with the built-in CPU. PCOPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
机译:

要解决的问题:通过连接已安装的FPGA和要测试的设备以在真实机器中执行测试,可以使用内置CPU启用透明类型功能测试而无需转换设计测试模式。

解决方案:设计环境透明类型功能测试系统在FPGA上安装了用于在包括CPU在内的模拟器上进行验证的HDL设计环境,从而实现了验证实际电路的透明类型功能测试(S6),并实现了通过带有内置CPU的透明类型功能测试进行协同验证环境。

版权:(C)2009,日本特许厅&INPIT

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号